Measurement of far-infrared waveguide loss using a multisection single-pass technique
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Datum
2001Typ
- Journal Article
ETH Bibliographie
no
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Publikationsstatus
publishedExterne Links
Zeitschrift / Serie
Applied Physics LettersBand
Seiten / Artikelnummer
Verlag
American Institute of PhysicsOrganisationseinheit
03759 - Faist, Jérôme / Faist, Jérôme
ETH Bibliographie
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