Carrier-envelope offset characterization in a semiconductor modelocked laser without f-to-2f interferometry
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Datum
2016Typ
- Other Conference Item
ETH Bibliographie
yes
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Publikationsstatus
publishedSeiten / Artikelnummer
Verlag
The University of YorkKonferenz
Organisationseinheit
03371 - Keller, Ursula / Keller, Ursula
ETH Bibliographie
yes
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