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dc.contributor.author
Stevens, Hugo
dc.contributor.supervisor
Baumann, Ernst
dc.contributor.supervisor
Baš-taymaz, Enis Behiç
dc.date.accessioned
2017-06-12T21:24:12Z
dc.date.available
2017-06-12T21:24:12Z
dc.date.issued
1972
dc.identifier.isbn
3-260-03213-4
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/20.500.11850/131752
dc.identifier.doi
10.3929/ethz-a-000088431
dc.format
application/pdf
dc.language.iso
de
dc.publisher
ETH Zürich
dc.rights.uri
http://rightsstatements.org/page/InC-NC/1.0/
dc.subject
SEKUNDÄRSTRAHLUNG VERURSACHT DURCH IONENSTRAHLEN (ELEKTRODYNAMIK)
dc.subject
SECONDARY RADIATION CAUSED BY ION BEAMS (ELECTRODYNAMICS)
dc.title
Untersuchung der Anisotropie in der durch Elektronen ausgelösten wahren und der gesamten Sekundärelektronenemission von Einkristallen mit Hilfe einer speziellen Apparatur zur Aufnahme von Rotations-Diagrammen
dc.type
Doctoral Thesis
dc.rights.license
In Copyright - Non-Commercial Use Permitted
ethz.size
42 S.
ethz.code.ddc
DDC - DDC::5 - Science::530 - Physics
ethz.notes
Diss. Naturwiss. ETH Zürich, Nr. 4799, 1972. Ref.: Baumann, E. ; Korref.: Bas, E..
ethz.identifier.diss
4799
ethz.identifier.nebis
000088431
ethz.publication.place
Zürich
ethz.publication.status
published
ethz.date.deposited
2017-06-12T21:25:06Z
ethz.source
ECOL
ethz.identifier.importid
imp5936693099a2068768
ethz.ecolpid
eth:32005
ethz.eth
yes
ethz.availability
Closed access
ethz.rosetta.installDate
2017-07-19T02:05:16Z
ethz.rosetta.lastUpdated
2020-02-14T18:31:18Z
ethz.rosetta.versionExported
true
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