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dc.contributor.author
Weiler, Jean
dc.contributor.supervisor
Gerecke, Eduard
dc.contributor.supervisor
Guggenbühl, Walter
dc.date.accessioned
2017-06-12T22:11:52Z
dc.date.available
2017-06-12T22:11:52Z
dc.date.issued
1967
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/20.500.11850/133815
dc.identifier.doi
10.3929/ethz-a-000093377
dc.language.iso
de
dc.publisher
Juris
dc.rights.uri
http://rightsstatements.org/page/InC-NC/1.0/
dc.subject
FLÄCHENDIODEN/MIT MEHREREN PN ÜBERGÄNGEN (ELEKTRONIK)
dc.subject
JUNCTION DIODES WITH MULTIPLE PN JUNCTION (ELECTRONICS)
dc.title
Analytische Berechnung und Messung der Potential- und Dichteverteilung in Silizium-Dreischichtdioden von niederen bis zu höchsten Stromdichten
dc.type
Doctoral Thesis
dc.rights.license
In Copyright - Non-Commercial Use Permitted
ethz.size
104 S.
ethz.code.ddc
6 - Technology, medicine and applied sciences::621.3 - Electric engineering
ethz.notes
Diss. Techn.Wiss. ETH Zürich, Nr. 4021, 1968. Ref.: Gerecke, E. ; Korref.: Guggenbühl, W..
ethz.identifier.diss
4021
ethz.identifier.nebis
000093377
ethz.publication.place
Zürich
ethz.publication.status
published
ethz.date.deposited
2017-06-12T22:13:16Z
ethz.source
ECOL
ethz.identifier.importid
imp593669562dc8c43624
ethz.ecolpid
eth:33277
ethz.eth
yes
ethz.availability
Closed access
ethz.rosetta.installDate
2017-07-16T01:54:02Z
ethz.rosetta.lastUpdated
2018-11-03T06:40:50Z
ethz.rosetta.versionExported
true
ethz.COinS
ctx_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:journal&rft.atitle=Analytische%20Berechnung%20und%20Messung%20der%20Potential-%20und%20Dichteverteilung%20in%20Silizium-Dreischichtdioden%20von%20niederen%20bis%20zu%20h%C3%B6chsten%20Stro&rft.date=1967&rft.au=Weiler,%20Jean&rft.genre=unknown&rft.btitle=Analytische%20Berechnung%20und%20Messung%20der%20Potential-%20und%20Dichteverteilung%20in%20Silizium-Dreischichtdioden%20von%20niederen%20bis%20zu%20h%C3%B6chsten%20Stro
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