Ueber den Einfluss der Oberflächeneigenschaften von Halbleitern auf ihre Eiskeimfähigkeit

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Author
Federer, Bruno
Date
1968
Type
  • Doctoral Thesis
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In Copyright - Non-Commercial Use Permitted
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https://doi.org/10.3929/ethz-a-000093428
Publication status
published
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Contributors
Examiner: Dütsch, Hans Ulrich
Examiner: Gränicher, W. H. Heini
Publisher
ETH Zürich
Subject
LEITFÄHIGKEIT VON HALBLEITERN (ELEKTRODYNAMIK); OBERFLÄCHEN + GRENZFLÄCHEN + BRUCHFLÄCHEN (PHYSIK VON MOLEKULARSYSTEMEN); KRISTALLOGRAPHIE; CONDUCTIVITY OF SEMICONDUCTORS (ELECTRODYNAMICS); SURFACES + INTERFACES + FRACTURE SURFACES (PHYSICS OF MOLECULAR SYSTEMS); CRYSTALLOGRAPHY
Notes
SA aus: Zeitschrift für angewandte Mathematik und Physik, Vol.14, Fasc.4, S.637-665. Diss. Naturwiss. ETH Zürich, Nr. 4131, 0000. Ref.: Gränicher, H. ; Korref.: Dütsch, H.U..
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