Experimentelle Untersuchung der Lichtintensitätsstatistik von Halbleiterlasern

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Author
Schmid, Konrad F.
Date
1982Type
- Doctoral Thesis
Altmetrics
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https://doi.org/10.3929/ethz-a-000272637Publication status
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Contributors
Supervisor: Massey, JamesSupervisor: Melchior, Hans
Publisher
ETH ZürichSubject
LASER (ELEKTROTECHNIK); HALBLEITER + HALBLEITERTECHNOLOGIE (ELEKTROTECHNIK); PHOTOELEKTRONENSPEKTROSKOPIE (TEILCHENPHYSIK); RAUSCHEN/SIGNALÜBERTRAGUNG (NACHRICHTENTECHNIK); WAHRSCHEINLICHKEITSVERTEILUNGEN + WAHRSCHEINLICHKEITSDICHTEN (WAHRSCHEINLICHKEITSRECHNUNG); OPTISCHE SIGNALÜBERTRAGUNG (OPTISCHE NACHRICHTENTECHNIK); LASER (ELECTRICAL ENGINEERING); SEMICONDUCTORS + SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY (ELECTRICAL ENGINEERING); PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY (PARTICLE PHYSICS); NOISE/SIGNAL TRANSMISSION (TELECOMMUNICATIONS); PROBABILITY DISTRIBUTIONS + PROBABILITY DENSITIES (PROBABILITY THEORY); OPTICAL SIGNAL TRANSMISSION (OPTICAL TELECOMMUNICATIONS)Notes
Diss. Techn.Wiss. ETH Zürich, Nr. 7162, 0000. Ref.: Melchior, H. ; Korref.: Massey, J..More
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