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Author
Egger, Stefan
Date
2000Type
- Doctoral Thesis
Altmetrics
Permanent link
https://doi.org/10.3929/ethz-a-003887517External links
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Contributors
Supervisor: Pescia, DaniloSupervisor: Siegmann, Hans-Christoph
Publisher
ETH ZürichSubject
ELEKTRONENBEUGUNG IN DER STRUKTURUNTERSUCHUNG (PHYSIK VON MOLEKULARSYSTEMEN); NIEDERENERGETISCHE ELEKTRONEN (TEILCHENPHYSIK); QUANTENZUSTAND EINES MIKROPHYSIKALISCHEN SYSTEMS (PHYSIK DER KONDENSIERTEN MATERIE); ELEKTRONENSPIN (TEILCHENPHYSIK); OPTISCHE MESSMETHODEN/INTERFERENZVERFAHREN (PHYSIK); MAGNETISCHE EIGENSCHAFTEN DÜNNER SCHICHTEN (PHYSIK VON MOLEKULARSYSTEMEN); ELECTRON-DIFFRACTION IN MICROSTRUCTURE ANALYSIS (PHYSICS OF MOLECULAR SYSTEMS); LOW-ENERGY ELECTRONS (PARTICLE PHYSICS); QUANTUM STATES (CONDENSED-MATTER PHYSICS); ELECTRON SPIN (PARTICLE PHYSICS); OPTICAL MEASURING METHODS/INTERFERENCE TECHNIQUES (PHYSICS); MAGNETIC PROPERTIES OF THIN FILMS (PHYSICS OF MOLECULAR SYSTEMS)Organisational unit
03351 - Pescia, Danilo
Notes
Diss. Naturwissenschaften ETH Zürich, Nr. 13427, 2000.More
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