Magnetic resonance force microscopy

NMR spectroscopy on the micro- and nanoscale
Download
Abstract (PDF, 105.3Kb)
Fulltext (PDF, 2.933Mb)
Thumbnail
Open access
Autor(in)
Degen, Christian Lukas
Datum
2005
Typ
    Doctoral Thesis
Rechte / Lizenz
In Copyright - Non-Commercial Use Permitted
Persistenter Link
https://doi.org/10.3929/ethz-a-005128707
Publikationsstatus
published
Externe Links
Printexemplar via ETH-Bibliothek suchen
Beteiligte
Referent: Ensslin, Klaus
Referent: Meier, Beat H.
Verlag
ETH Zürich
Thema
KERNRESONANZSPEKTROSKOPIE; NMR-MIKROSKOPIE, NMR-ABBILDUNDSVERFAHREN; RASTERKRAFTMIKROSKOPE, RKM + RASTERKRAFTMIKROSKOPIE; NUCLEAR MAGNETIC RESONANCE SPECTROSCOPY; NMR MICROSCOPY, NMR IMAGING; ATOMIC FORCE MICROSCOPES, AFM + ATOMIC FORCE MICROSCOPY
Organisationseinheit
03496 - Meier, Beat H. (emeritus) / Meier, Beat H. (emeritus)  
Anmerkungen
Diss., Naturwissenschaften, ETH Zürich, Nr. 16304, 2005.
Mehr
Alle Metadaten anzeigen
ETH Bibliographie
yes
Altmetrics