Metadata only
Datum
2010-08Typ
- Review Article
ETH Bibliographie
yes
Altmetrics
Publikationsstatus
publishedExterne Links
Zeitschrift / Serie
Semiconductor Science and TechnologyBand
Seiten / Artikelnummer
Verlag
IOP PublishingOrganisationseinheit
03759 - Faist, Jérôme / Faist, Jérôme
Anmerkungen
Received 31 Januar 2009, Revised 14 Februar 2010, Published online 2 Juli 2010.ETH Bibliographie
yes
Altmetrics