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dc.contributor.author
Daus, Alwin
dc.contributor.author
Vogt, Christian
dc.contributor.author
Münzenrieder, Niko
dc.contributor.author
Petti, Luisa
dc.contributor.author
Knobelspies, Stefan
dc.contributor.author
Cantarella, Giuseppe
dc.contributor.author
Luisier, Mathieu
dc.contributor.author
Salvatore, Giovanni A.
dc.contributor.author
Tröster, Gerhard
dc.date.accessioned
2018-01-10T07:06:18Z
dc.date.available
2017-07-12T14:38:39Z
dc.date.available
2017-07-14T08:30:16Z
dc.date.available
2018-01-10T07:02:41Z
dc.date.available
2018-01-10T07:06:18Z
dc.date.issued
2017-07
dc.identifier.issn
0018-9383
dc.identifier.issn
1557-9646
dc.identifier.other
10.1109/ted.2017.2703914
en_US
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/20.500.11850/170122
dc.language.iso
en
en_US
dc.publisher
IEEE
en_US
dc.title
Charge Trapping Mechanism Leading to Sub-60-mV/decade-Swing FETs
en_US
dc.type
Journal Article
dc.date.published
2017-06-05
ethz.journal.title
IEEE Transactions on Electron Devices
ethz.journal.volume
64
en_US
ethz.journal.issue
7
en_US
ethz.journal.abbreviated
IEEE trans. electron devices
ethz.pages.start
2789
en_US
ethz.pages.end
2796
en_US
ethz.identifier.wos
ethz.identifier.scopus
ethz.publication.place
New York, NY
en_US
ethz.publication.status
published
en_US
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ETH Zürich::00002 - ETH Zürich::00012 - Lehre und Forschung::00007 - Departemente::02140 - Dep. Inf.technologie und Elektrotechnik / Dep. of Inform.Technol. Electrical Eng.::02634 - Institut für Elektronik / Electronics Laboratory::03388 - Tröster, Gerhard (emeritus)
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ETH Zürich::00002 - ETH Zürich::00012 - Lehre und Forschung::00007 - Departemente::02140 - Dep. Inf.technologie und Elektrotechnik / Dep. of Inform.Technol. Electrical Eng.::02636 - Institut für Integrierte Systeme / Integrated Systems Laboratory::03925 - Luisier, Mathieu / Luisier, Mathieu
ethz.date.deposited
2017-07-12T14:38:39Z
ethz.source
FORM
ethz.eth
yes
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ethz.availability
Metadata only
en_US
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2017-07-14T08:30:49Z
ethz.rosetta.lastUpdated
2019-01-02T11:21:49Z
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