Simultaneous scanning ion conductance and atomic force microscopy with a nanopore: Effect of the aperture edge on the ion current images
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Datum
2018-11-07Typ
- Journal Article
Publikationsstatus
publishedExterne Links
Zeitschrift / Serie
Journal of Applied PhysicsBand
Seiten / Artikelnummer
Verlag
American Institute of PhysicsOrganisationseinheit
03741 - Vörös, Janos / Vörös, Janos