Scanning Probe Thermometry to study Thermoelectricity and Dissipation at Nanoscale Junctions

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Autor(in)
Könemann, Fabian
Datum
2019-08-21
Typ
    Doctoral Thesis
Rechte / Lizenz
In Copyright - Non-Commercial Use Permitted
Persistenter Link
https://doi.org/10.3929/ethz-b-000387500
Publikationsstatus
published
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Beteiligte
Referent: Schenk, Andreas
Referent: Luisier, Mathieu
Referent: Brugger, Jürgen
Verlag
ETH Zurich
Organisationseinheit
08837 - Schenk, Andreas (Tit.-Prof.)  
03925 - Luisier, Mathieu / Luisier, Mathieu  
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