A calibration algorithm for nearfield scanning microwave microscopes
dc.contributor.author
Hoffmann, Johannes
dc.contributor.author
Wollensack, Michael
dc.contributor.author
Zeier, Markus
dc.contributor.author
Niegemann, Jens
dc.contributor.author
Huber, Hans-Peter
dc.contributor.author
Kienberger, Ferry
dc.date.accessioned
2017-06-10T12:59:17Z
dc.date.available
2017-06-10T12:59:17Z
dc.date.issued
2012
dc.identifier.isbn
978-1-4673-2198-3
dc.identifier.other
10.1109/NANO.2012.6322116
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/20.500.11850/62168
dc.language.iso
en
dc.publisher
IEEE
dc.title
A calibration algorithm for nearfield scanning microwave microscopes
dc.type
Conference Paper
ethz.journal.title
Proceedings of the 12th IEEE Conference on Nanotechnology (IEEE-NANO 2012)
ethz.size
4 p.
ethz.event
12th IEEE Conference on Nanotechnology (IEEE-NANO 2012)
ethz.event.location
Birmingham, United Kingdom
ethz.event.date
August 20-23, 2012
ethz.publication.place
ethz.publication.status
published
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ETH Zürich::00002 - ETH Zürich, direkt::00012 - Lehre und Forschung, direkt::00007 - Departemente, direkt::02140 - Departement Informationstechnologie und Elektrotechnik / Department of Information Technology and Electrical Engineering::02635 - Institut für Elektromagnetische Felder (IEF) / Electromagnetic Fields Laboratory (IEF)::03472 - Professur für Feldtheorie (ehemalig)
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ethz.date.deposited
2017-06-10T13:01:02Z
ethz.source
ECIT
ethz.identifier.importid
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ethz.ecitpid
pub:98834
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yes
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Metadata only
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2017-07-20T18:26:42Z
ethz.rosetta.lastUpdated
2024-02-01T19:59:34Z
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Publikationstyp
-
Conference Paper [35325]