X-ray grating interferometry for imaging and metrology
Open access
Datum
2013Typ
- Doctoral Thesis
ETH Bibliographie
yes
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https://doi.org/10.3929/ethz-a-009753051Publikationsstatus
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Verlag
ETHThema
GONIOMETRIC METHODS (X-RAY CRYSTALLOGRAPHY); DIFFRACTION GRATINGS, PLANE-WAVE DIFFRACTION (OPTICS); INTERFEROMETRIC INSTRUMENTS (OPTICAL INSTRUMENTS); BRAGGSCHES GESETZ, RÖNTGENOPTIK (KRISTALLOGRAPHIE); RÖNTGENGONIOMETERVERFAHREN (KRISTALLOGRAPHIE); BEUGUNGSGITTER, EBENE WELLEN (OPTIK); INTERFEROMETRISCHE GERÄTE (OPTISCHE INSTRUMENTE); BRAGG'S LAW, X-RAY OPTICS (CRYSTALLOGRAPHY)Organisationseinheit
02140 - Dep. Inf.technologie und Elektrotechnik / Dep. of Inform.Technol. Electrical Eng.03817 - Stampanoni, Marco F.M. / Stampanoni, Marco F.M.
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