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dc.contributor.author
Tuma, Tomas
dc.contributor.author
Lygeros, John
dc.contributor.author
Sebastian, Abu
dc.contributor.author
Pantazi, Angeliki
dc.date.accessioned
2018-08-31T09:59:10Z
dc.date.available
2017-06-10T20:39:02Z
dc.date.available
2018-08-31T09:59:10Z
dc.date.issued
2013
dc.identifier.issn
1474-6670
dc.identifier.other
10.3182/20130410-3-CN-2034.00052
en_US
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/20.500.11850/70981
dc.language.iso
en
en_US
dc.publisher
Elsevier
en_US
dc.title
Analysis and design of multiresolution scan trajectories for high-speed scanning probe microscopy
en_US
dc.type
Conference Paper
dc.date.published
2016-04-21
ethz.journal.title
IFAC Proceedings Volumes
ethz.journal.volume
46
en_US
ethz.journal.issue
5
en_US
ethz.pages.start
138
en_US
ethz.pages.end
144
en_US
ethz.event
6th IFAC Symposium on Mechatronic Systems (MECH 2013)
en_US
ethz.event.location
Hangzhou, China
en_US
ethz.event.date
April 10-12, 2013
en_US
ethz.identifier.scopus
ethz.publication.place
Oxford
en_US
ethz.publication.status
published
en_US
ethz.leitzahl
ETH Zürich::00002 - ETH Zürich::00012 - Lehre und Forschung::00007 - Departemente::02140 - Dep. Inf.technologie und Elektrotechnik / Dep. of Inform.Technol. Electrical Eng.::02650 - Institut für Automatik / Automatic Control Laboratory::03751 - Lygeros, John / Lygeros, John
en_US
ethz.leitzahl.certified
ETH Zürich::00002 - ETH Zürich::00012 - Lehre und Forschung::00007 - Departemente::02140 - Dep. Inf.technologie und Elektrotechnik / Dep. of Inform.Technol. Electrical Eng.::02650 - Institut für Automatik / Automatic Control Laboratory::03751 - Lygeros, John / Lygeros, John
ethz.date.deposited
2017-06-10T20:41:03Z
ethz.source
ECIT
ethz.identifier.importid
imp593650ecb221e50577
ethz.ecitpid
pub:112429
ethz.eth
yes
en_US
ethz.availability
Metadata only
en_US
ethz.rosetta.installDate
2017-07-13T13:28:18Z
ethz.rosetta.lastUpdated
2018-11-08T01:20:13Z
ethz.rosetta.versionExported
true
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