Photothermal diffuse reflectance: a new tool for spectroscopic investigation of scattering samples

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Autor(in)
Rey, J.M.
Kottman, J.
Sigrist, M.W.
Datum
2013-09
Typ
    Journal Article
Publikationsstatus
published
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Zeitschrift / Serie
Applied Physics B
Band
112(4)
Seiten / Artikelnummer
547 - 551
Verlag
Springer
Organisationseinheit
03599 - Esslinger, Tilman / Esslinger, Tilman  
08775 - Sigrist, Markus (Tit.-Prof.)
Anmerkungen
.
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Zitate
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