A generalized modeling approach for the frequency shift in near-field scanning microwave microscopes

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Autor(in)
Niegemann, Jens
Datum
2013
Typ
    Conference Paper
Publikationsstatus
published
Externe Links
Zeitschrift / Serie
Electromagnetics in Advanced Applications (ICEAA)
Seiten / Artikelnummer
1145 - 1148
Verlag
IEEE
Konferenz
15th International Conference on Electromagnetics in Advanced Applications 2013, Torino, Italy, September 9-13, 2013
Organisationseinheit
03472 - Professur für Feldtheorie (ehemalig)  
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