SCC thermal model identification via advanced bias-compensated least-squares
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Autor(in)
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Datum
2013Typ
- Conference Paper
ETH Bibliographie
yes
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Publikationsstatus
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Buchtitel
2013 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE) : proceedingsSeiten / Artikelnummer
Verlag
IEEEKonferenz
Organisationseinheit
03996 - Benini, Luca / Benini, Luca
ETH Bibliographie
yes
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