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dc.contributor.author
Baumann, Rainer
dc.contributor.author
Fiedler, Ulrich
dc.date.accessioned
2017-06-11T09:30:51Z
dc.date.available
2017-06-11T09:30:51Z
dc.date.issued
2005-08
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/20.500.11850/85145
dc.language.iso
en
dc.publisher
TIK
dc.title
Active Probing of an E1 TDM Stream
dc.type
Report
ethz.journal.title
TIK Report
ethz.journal.volume
217
ethz.notes
.
ethz.identifier.nebis
000901696
ethz.publication.place
Zürich
ethz.publication.status
published
ethz.leitzahl
ETH Zürich::00002 - ETH Zürich::00012 - Lehre und Forschung::00007 - Departemente::02140 - Dep. Inf.technologie und Elektrotechnik / Dep. of Inform.Technol. Electrical Eng.::02640 - Inst. f. Technische Informatik und Komm. / Computer Eng. and Networks Lab.::03234 - Plattner, Bernhard (emeritus)
ethz.leitzahl
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ethz.leitzahl.certified
ETH Zürich::00002 - ETH Zürich::00012 - Lehre und Forschung::00007 - Departemente::02140 - Dep. Inf.technologie und Elektrotechnik / Dep. of Inform.Technol. Electrical Eng.::02640 - Inst. f. Technische Informatik und Komm. / Computer Eng. and Networks Lab.::03234 - Plattner, Bernhard (emeritus)
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ETH Zürich::00002 - ETH Zürich::00012 - Lehre und Forschung::00007 - Departemente::02140 - Dep. Inf.technologie und Elektrotechnik / Dep. of Inform.Technol. Electrical Eng.::02640 - Inst. f. Technische Informatik und Komm. / Computer Eng. and Networks Lab.::03429 - Thiele, Lothar / Thiele, Lothar
ethz.date.deposited
2017-06-11T09:33:05Z
ethz.source
ECIT
ethz.identifier.importid
imp593651fae66fd14660
ethz.ecitpid
pub:134141
ethz.eth
yes
ethz.availability
Metadata only
ethz.rosetta.installDate
2017-07-12T21:35:51Z
ethz.rosetta.lastUpdated
2018-11-02T14:52:59Z
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