Metadata only
Datum
2004Typ
- Book Chapter
ETH Bibliographie
yes
Altmetrics
Publikationsstatus
publishedBuchtitel
Nanoscale characterisation of ferroelectric materials : scanning probe microscopy approachZeitschrift / Serie
Nanoscience and technologySeiten / Artikelnummer
Verlag
SpringerOrganisationseinheit
03255 - Günter, Peter
ETH Bibliographie
yes
Altmetrics