Resolution and contrast in Kelvin probe force microscopy

Thumbnail
Metadata only
Autor(in)
Jacobs, H.O.
Leuchtmann, Pascal
Homan, O.J.
Stemmer, A.
Alle anzeigen
Datum
1998-08
Typ
    Journal Article
Publikationsstatus
published
Externe Links
Zeitschrift / Serie
Journal of Applied Physics
Band
84(3)
Seiten / Artikelnummer
1168 - 1173
Verlag
American Institute of Physics
Organisationseinheit
03472 - Professur für Feldtheorie (ehemalig)  
Anmerkungen
Received: 20 February 1997; Accepted for publication: 4 May 1998.
Mehr
Alle Metadaten anzeigen
ETH Bibliographie
yes
Altmetrics