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dc.contributor.author
Beams, Ryan M.
dc.contributor.author
Gustavo Cançado, Luiz
dc.contributor.author
Novotný, Lukas
dc.date.accessioned
2017-06-11T16:28:33Z
dc.date.available
2017-06-11T16:28:33Z
dc.date.issued
2015-03-04
dc.identifier.issn
0953-8984
dc.identifier.issn
1361-648X
dc.identifier.other
10.1088/0953-8984/27/8/083002
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/20.500.11850/98872
dc.language.iso
en
dc.publisher
Institute of Physics
dc.subject
defects
dc.subject
dopants
dc.subject
grapheme
dc.subject
Raman scattering
dc.title
Raman characterization of defects and dopants in graphene
dc.type
Journal Article
ethz.journal.title
Journal of Physics: Condensed Matter
ethz.journal.volume
27
ethz.journal.issue
8
ethz.journal.abbreviated
J. phys., Condens. matter
ethz.pages.start
083002
ethz.size
27 p.
ethz.notes
.
ethz.identifier.wos
ethz.identifier.scopus
ethz.identifier.nebis
000510644
ethz.publication.place
Bristol
ethz.publication.status
published
ethz.leitzahl
ETH Zürich::00002 - ETH Zürich::00012 - Lehre und Forschung::00007 - Departemente::02140 - Dep. Inf.technologie und Elektrotechnik / Dep. of Inform.Technol. Electrical Eng.::03944 - Novotny, Lukas / Novotny, Lukas
ethz.leitzahl.certified
ETH Zürich::00002 - ETH Zürich::00012 - Lehre und Forschung::00007 - Departemente::02140 - Dep. Inf.technologie und Elektrotechnik / Dep. of Inform.Technol. Electrical Eng.::03944 - Novotny, Lukas / Novotny, Lukas
ethz.date.deposited
2017-06-11T16:29:05Z
ethz.source
ECIT
ethz.identifier.importid
imp593652fe148a172471
ethz.ecitpid
pub:154667
ethz.eth
yes
ethz.availability
Metadata only
ethz.rosetta.installDate
2017-07-17T09:15:28Z
ethz.rosetta.lastUpdated
2018-11-02T18:32:18Z
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true
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