Structural and optical properties of 200 mm germanium-on-insulator (GeOI) substrates for silicon photonics applications
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Datum
2015Typ
- Conference Paper
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Buchtitel
Silicon photonics X : 9-12 February 2015, San Francisco, California, United StatesZeitschrift / Serie
Proceedings of SPIEBand
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Verlag
SPIEKonferenz
Organisationseinheit
03759 - Faist, Jérôme / Faist, Jérôme
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