Metadata only
Autor(in)
Alle anzeigen
Datum
2015Typ
- Conference Paper
ETH Bibliographie
yes
Altmetrics
Publikationsstatus
publishedExterne Links
Buchtitel
2015 IEEE 12th International Symposium on Biomedical Imaging (ISBI 2015) : Brooklyn, New York, USA, 16 - 19 April 2015Seiten / Artikelnummer
Verlag
IEEEKonferenz
Thema
Registration accuracy; Consistency; Registration circuits; Error detectionOrganisationseinheit
09528 - Göksel, Orçun (ehemalig) / Göksel, Orçun (former)
03633 - Székely, Gábor (emeritus)
ETH Bibliographie
yes
Altmetrics