Measurement of the intersubband scattering rate in semiconductor quantum wells by excited state differential absorption spectroscopy
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Datum
1993-09Typ
- Journal Article
ETH Bibliographie
no
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Publikationsstatus
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Zeitschrift / Serie
Applied Physics LettersBand
Seiten / Artikelnummer
Verlag
American Institute of PhysicsOrganisationseinheit
03759 - Faist, Jérôme / Faist, Jérôme
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