Metadata only
Datum
2008Typ
- Other Journal Item
ETH Bibliographie
yes
Altmetrics
Publikationsstatus
publishedZeitschrift / Serie
Acta Crystallographica Section A: Foundations of CrystallographyBand
Seiten / Artikelnummer
Verlag
Wiley-BlackwellThema
aperiodic structures; structure determination and analysis; X-ray diffractionOrganisationseinheit
03401 - Steurer, Walter
ETH Bibliographie
yes
Altmetrics