Beiträge zur Ermittlung der Felder in stromdurchflossenen Halbleiterplatten unter dem Einfluss eines transversalen, statischen Magnetfeldes
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Datum
1963Typ
- Doctoral Thesis
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https://doi.org/10.3929/ethz-a-000087794Publikationsstatus
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ETH ZürichThema
HALBLEITER + HALBLEITERTECHNOLOGIE (ELEKTROTECHNIK); LEITFÄHIGKEIT VON HALBLEITERN (ELEKTRODYNAMIK); SEMICONDUCTORS + SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY (ELECTRICAL ENGINEERING); CONDUCTIVITY OF SEMICONDUCTORS (ELECTRODYNAMICS)Anmerkungen
Diss. Techn.Wiss. ETH Zürich, Nr. 3374, 0000. Ref.: Strutt, M. ; Korref.: Borgnis, F..ETH Bibliographie
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