Simulation, analysis, and parameter extraction of electronic components and circuits using the finite difference time domain method
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Autor(in)
Datum
1999Typ
- Doctoral Thesis
ETH Bibliographie
yes
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https://doi.org/10.3929/ethz-a-003876598Publikationsstatus
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Verlag
ETH ZürichThema
HALBLEITERBAUELEMENTE + ELEKTRONISCHE BAUELEMENTE (ELEKTRONIK); ELEKTRISCHE SCHALTKREISE + ELEKTRONISCHE SCHALTKREISE (ELEKTROTECHNIK); FINITE-DIFFERENZEN-METHODE (NUMERISCHE MATHEMATIK); INSULATED-GATE-BIPOLAR-TRANSISTOREN, IGBT (ELEKTRONIK); LEITERPLATTEN + PLATINEN (MIKROELEKTRONIK); SEMICONDUCTOR COMPONENTS + ELECTRONIC COMPONENTS (ELECTRONICS); ELECTRICAL CIRCUITS + ELECTRONIC CIRCUITS (ELECTRICAL ENGINEERING); FINITE DIFFERENCE METHOD (NUMERICAL MATHEMATICS); INSULATED-GATE-BIPOLAR-TRANSISTORS, IGBT (ELECTRONICS); PRINTED WIRING BOARDS, PWB + PRINTED CIRCUIT BOARDS, PCB (MICROELECTRONICS)Organisationseinheit
03228 - Fichtner, Wolfgang
Anmerkungen
Diss. Technische Wissenschaften ETH Zürich, Nr. 13522, 2000.ETH Bibliographie
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