AWEAR 2.0 System
Metadata only
Autor(in)
Alle anzeigen
Datum
2009-06Typ
- Conference Paper
ETH Bibliographie
yes
Altmetrics
Publikationsstatus
publishedExterne Links
Buchtitel
IEEE Computer Society Conference on Computer Vision and Pattern Recognition workshops, 2009 : CVPR workshops 2009 ; 20 - 25 June 2009, Miami Beach, FL, USASeiten / Artikelnummer
Verlag
IEEEKonferenz
ETH Bibliographie
yes
Altmetrics