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dc.contributor.author
Franks, Wendy
dc.contributor.author
Lange, Dirk
dc.contributor.author
Lee, Seunghwan
dc.contributor.author
Hierlemann, Andreas
dc.contributor.author
Spencer, Nicolas D.
dc.contributor.author
Baltes, Henry
dc.date.accessioned
2017-06-12T00:36:23Z
dc.date.available
2017-06-12T00:36:23Z
dc.date.issued
2001
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/20.500.11850/112831
dc.language.iso
en
dc.title
Nanochemical surface analyzer in CMOS technology
dc.type
Other Conference Item
ethz.event
3rd International Conference on Scanning Probe Microscopy, Sensors and Nanostructures
ethz.event.location
Makuhari, Chiba, Japan
ethz.event.date
May 27-31, 2001
ethz.notes
See also: http://e-citations.ethbib.ethz.ch/view/pub:172008.
ethz.publication.status
unpublished
ethz.leitzahl
ETH Zürich::00002 - ETH Zürich::00012 - Lehre und Forschung::00007 - Departemente::02060 - Dep. Biosysteme / Dep. of Biosystems Science and Eng.::03684 - Hierlemann, Andreas / Hierlemann, Andreas
ethz.leitzahl.certified
ETH Zürich::00002 - ETH Zürich::00012 - Lehre und Forschung::00007 - Departemente::02060 - Dep. Biosysteme / Dep. of Biosystems Science and Eng.::03684 - Hierlemann, Andreas / Hierlemann, Andreas
ethz.date.deposited
2017-06-12T00:38:01Z
ethz.source
ECIT
ethz.identifier.importid
imp5936541b1e60e92175
ethz.ecitpid
pub:174442
ethz.eth
yes
ethz.availability
Metadata only
ethz.rosetta.installDate
2017-07-26T06:37:00Z
ethz.rosetta.lastUpdated
2018-11-02T22:22:38Z
ethz.rosetta.versionExported
true
ethz.COinS
ctx_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:journal&rft.atitle=Nanochemical%20surface%20analyzer%20in%20CMOS%20technology&rft.date=2001&rft.au=Franks,%20Wendy&Lange,%20Dirk&Lee,%20Seunghwan&Hierlemann,%20Andreas&Spencer,%20Nicolas%20D.&rft.genre=unknown&rft.btitle=Nanochemical%20surface%20analyzer%20in%20CMOS%20technology
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