Untersuchung der Anisotropie in der durch Elektronen ausgelösten wahren und der gesamten Sekundärelektronenemission von Einkristallen mit Hilfe einer speziellen Apparatur zur Aufnahme von Rotations-Diagrammen

Stevens, Hugo

doi:10.3929/ethz-a-000088431

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dc.contributor.author

Stevens, Hugo

dc.contributor.supervisor

Baumann, Ernst

dc.contributor.supervisor

Baš-taymaz, Enis Behiç

dc.date.accessioned

2017-06-12T21:24:12Z

dc.date.available

2017-06-12T21:24:12Z

dc.date.issued

1972

dc.identifier.isbn

3-260-03213-4

dc.identifier.uri

http://hdl.handle.net/20.500.11850/131752

dc.identifier.doi

10.3929/ethz-a-000088431

dc.format

application/pdf

dc.language.iso

de

dc.publisher

ETH Zürich

dc.rights.uri

http://rightsstatements.org/page/InC-NC/1.0/

dc.subject

SEKUNDÄRSTRAHLUNG VERURSACHT DURCH IONENSTRAHLEN (ELEKTRODYNAMIK)

dc.subject

SECONDARY RADIATION CAUSED BY ION BEAMS (ELECTRODYNAMICS)

dc.title

Untersuchung der Anisotropie in der durch Elektronen ausgelösten wahren und der gesamten Sekundärelektronenemission von Einkristallen mit Hilfe einer speziellen Apparatur zur Aufnahme von Rotations-Diagrammen

dc.type

Doctoral Thesis

dc.rights.license

In Copyright - Non-Commercial Use Permitted

ethz.size

42 S.

ethz.code.ddc

DDC - DDC::5 - Science::530 - Physics

ethz.notes

Diss. Naturwiss. ETH Zürich, Nr. 4799, 1972. Ref.: Baumann, E. ; Korref.: Bas, E..

ethz.identifier.diss

4799

ethz.identifier.nebis

000088431

ethz.publication.place

Zürich

ethz.publication.status

published

ethz.date.deposited

2017-06-12T21:25:06Z

ethz.source

ECOL

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yes

ethz.availability

Closed access

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2017-07-19T02:05:16Z

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2020-02-14T18:31:18Z

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